Röntgenphotoelektronenspektroskopie mit XPS-Imaging, ISS, UPS und Clustersputtering
Technische Universität Ilmenau
Zuschlag an FEI Deutschland GmbH für 737.370 €.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
Lieferung und Inbetriebnahme eines Röntgenphotoelektronenspektroskopiesystems mit XPS-Imaging, Ionenstreuspektroskopie (ISS), Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und Arn+-Clustersputtering zur Tiefenprofilierung sowie automatisiertem Probenhandling zur qualitativen und quantitativen Oberflächenanalyse für Forschungsthemen in den Bereichen Quantenoptik und Sensorik.
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | 50% Technische Spezifikationen | 50% |
| Preis | 50% Preis | 50% |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| LOT-0000 | FEI Deutschland GmbH | 737.370 € | 2 | 26 September 2025 |
Amtliche Veröffentlichungen
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