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Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau

Zuschlag an TESCAN GmbH und einen weiteren Bieter.

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Beträge und Kennzahlen

3
Lose
4
Eingegangene Angebote

Beschreibung

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

Lose (3)

LosBeschreibungCPV-CodeBetrag
1 Los 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2)
Halle, DEE02
38511100 Rasterelektronenmikroskope —
2 Los 2: high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1)
Halle, DEE02
38511100 Rasterelektronenmikroskope —
3 Los 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
Halle, DEE02
38511100 Rasterelektronenmikroskope —

Zuschlagskriterien

ArtKriteriumGewichtung
QualitätTechnische Ausführung—
PreisPreis—

Zuschläge

LosZuschlag anBetragEingegangene AngeboteDatum
1
Los 1: Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2)
TESCAN GmbH — 2 27 November 2025
2
Los 2: high performance Ga-FIB sample preparation…
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH — 3 27 November 2025
3
Los 3: high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH — 4 27 November 2025

Amtliche Veröffentlichungen

MediumReferenzDatum
OEV 90ac6b5c151c4c2bb8b465b36e6c2212 10 Dezember 2025
TED 272733-2025 —

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