Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Friedrich-Schiller-Universität Jena
Zuschlag an Jeol (Germany) GmbH für 109.085 €.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Preis | 100 | — |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| LOT-0001 | Jeol (Germany) GmbH | 109.085 € | 2 | 11 November 2026 |
Amtliche Veröffentlichungen
| Medium | Referenz | Datum |
|---|---|---|
| OEV | — | 13 November 2026 |
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