Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM)
Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung
Geschlossen. Angebotsfrist: 22 Oktober 2025.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
Gesucht wird für anwendungsorientierte wissenschaftliche Grundlagenforschung ein System zur hochauflösenden Bildgebung von molekularen Systemen auf Oberflächen. Dieses grundlegende AFM-System soll die Möglichkeit bieten, das vorhandene System für zukünftige rastertunnelmikroskopische Experimente (STM), u.a. durch eine elektrochemische Zelle, aufzurüsten. Das Hauptziel besteht darin, hochauflösende AFM-Experimente zu ermöglichen und gleichzeitig eine umfassende Reihe von STM-Funktionen und elektrischen Charakterisierungen hinzuzufügen. Zusätzliche oder ergänzende Messmethoden werden demnach in dem Angebot entsprechend bewertet (weitere Details siehe 2. Leistungsbeschreibung). Neben dem Messsystem sollten der Computer zur Ansteuerung inklusive voll entwickelter Software, Training sowie Installation Bestandteil dieser Ausschreibung sein.
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | siehe Vergabeunterlagen | — |
| Preis | Preis | — |
Teilnahmebedingungen
- Unterlagen werden gemäß § 56 VgV nachgefordert
Amtliche Veröffentlichungen
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Häufig gestellte Fragen
- Bis wann kann ein Angebot für diese Ausschreibung eingereicht werden?
- Die Angebotsfrist endet am 22 Oktober 2025, 12:00. Prüfen Sie die offizielle Quelle, da Termine geändert werden können.
- Wer ist der Auftraggeber dieser Ausschreibung?
- Die Vergabestelle ist Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (Deutschland).
- Wie kann ich mich an öffentlichen Ausschreibungen in Deutschland beteiligen?
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