3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Zuschlag an Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH und einen weiteren Bieter.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 )
Lose (2)
| Los | Beschreibung | CPV-Code | Betrag |
|---|---|---|---|
| 1 | Los 1: 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) | 38511100 Rasterelektronenmikroskope | — |
| 2 | Los 2: SEM Scanning Electron Microscope (IMWS-3.1) | 38511100 Rasterelektronenmikroskope | — |
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | technische Anforderungen | — |
| Preis | Preis | — |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH | — | 3 | 27 November 2025 |
| 2 | point elektronic GmbH | — | 3 | 27 November 2025 |
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