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Achat d'un Système EBSD pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG)

Acheteur: ECOLE NATIONALE SUPERIEURE DE MECANIQUE ET D'AEROTECHNIQUE (ISAE-ENSMA)

Publication
17 juillet 2024
Lieu d'exécution
FUTUROSCOPE-CHASSENEUIL, FRI34
Procédure
Procédure négociée
Lots
1
Numéro d'avis
FR-24-83811
Référence
40398f3c-023c-4fa9-8416-ac969b9de10b

Codes CPV

Description

Achat d'un Système EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction) pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG). Le laboratoire souhaite disposer d'un équipement de caractérisation par la technique EBSD capable à la fois d'analyse à des échelles fines de l'ordre de quelques dizaines de nanomètres et suffisamment rapide pour explorer des surfaces étendues. Il sera installé sur un MEB-FEG JEOL de type JSM-IT800LV.

Critères d'attribution

Attributions

Attribué àMontantDate
Ametek SAS

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