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Wafer inspection system (WIS) - PR1006153-2350 -W

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau

Veröffentlicht
12 Dezember 2025
Verfahren
Verhandlungsverfahren
Lose
1
Bekanntmachungsnummer
2dd053d69bf644f29c6204c8bf3560e7
Referenz
c457078d-9317-437e-8c25-941455ef5d3e
Offizielle Quelle
Offizielle Quelle

CPV-Codes

Beschreibung

PR1006153-2350 -W Automatisiertes Waferinspektiosnsystem /Wafer inspection system (WIS) with automated handling and sorting station for the characterization and classification of crystalline silicon wafers for solar cell production

Zuschlagskriterien

Zuschläge

Zuschlag anBetragDatum
FORTIX

Amtliche Veröffentlichungen

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Häufig gestellte Fragen

Wer ist der Auftraggeber dieser Ausschreibung?
Die Vergabestelle ist Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau (Deutschland).
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