Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern (HHI-05) - PR880078-3220-P
Zuschlag an KLA-Tencor GmbH.
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Beträge und Kennzahlen
1
Lose
1
Eingegangene Angebote
Beschreibung
Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern (HHI-05)
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | Technische Ausführung | — |
| Preis | Preis | — |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| LOT-0000 | KLA-Tencor GmbH | — | 1 | 16 Oktober 2025 |
Amtliche Veröffentlichungen
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