Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen
Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
Geschlossen.
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Beträge und Kennzahlen
1
Lose
Beschreibung
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | Kathode | — |
| Qualität | Beschleunigungsspannung | — |
| Qualität | SE-Auflösung <= 1 nm bei 15 kV (WD=4mm und mit 200.000 X Vergrößerung | — |
| Qualität | SE-Auflösung <= 1nm bei 1KV (WD=2mm bei 160.000X Vergrößerung) | — |
| Qualität | Laterale Auflösung <= 1 nm bei 15 kV, bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System) | — |
| Qualität | Laterale Auflösung <= 1.6 nm bei 1 kV bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System) | — |
| Qualität | Evakuierungszeit der Schleuse | — |
| Qualität | Vergrößerung | — |
| Qualität | Bildauflösung | — |
| Qualität | Probentisch ermöglicht definierte Kippung im Bereich von mind. -5° bis mind. 45° | — |
| Preis | Preiskomponente Nr. 1 Preis Lieferung Gerät (20%), Preiskomponente Nr. 2 Optionen: 2.1 Kosten Ersatzkathode inkl. Einbau (2%), 2.2 Kosten pro User Lizenz für eine Bürolizenz zur nachträglichen… | — |
Änderungen
- Verwendung von EU-Mitteln: Ja
Amtliche Veröffentlichungen
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