Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskopes
Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung
Zuschlag an Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
Für die elektronenmikroskopische Untersuchung inklusive chemischer Analyse wird der Kauf eines neuen Rasterelektronenmikroskopes (Neugerät) inklusive der Lieferung, Installation und Einweisung am Gerät ausge¬schrieben. Am Leibniz IOM werden sehr unterschiedliche Proben untersucht, diese reichen von porösen Polymermembranen über beschichtete Glas- bzw. Keramikproben bis hin zu nanostrukturierten Metall- bzw. Halbleiteroberflächen. Dieses breite Portfolio an Proben muss zuverlässig messbar sein. Das neue Rasterelektronenmikroskop muss sich durch eine hohe Benutzerfreundlichkeit auszeichnen. Im Rahmen der zunehmenden Digitalisierung des Wissenschaftsbetriebes ist ein hohes Maß an Automatisierung und die Möglichkeit der Nutzung von KI-Methoden von höchster Priorität. Als Budget steht dem Auftraggeber ein maximaler Betrag in Höhe von 835.000 Euro (netto, ohne MwSt.) zur Verfügung.
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Qualität | Siehe Vergabeunterlagen | — |
| Preis | Preis | — |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| LOT-0000 | Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH | — | 3 | 12 Dezember 2025 |
Amtliche Veröffentlichungen
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