Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Zuschlag an FEI Deutschland GmbH. Geschätzter Auftragswert: 1.680.672 €.
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Beträge und Kennzahlen
Beschreibung
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.
Zuschlagskriterien
| Art | Kriterium | Gewichtung |
|---|---|---|
| Preis | Zuschlagskriterium ist der Preis. | — |
Zuschläge
| Los | Zuschlag an | Betrag | Eingegangene Angebote | Datum |
|---|---|---|---|---|
| LOT-0001 | FEI Deutschland GmbH | — | 1 | 23 Juni 2025 |
Amtliche Veröffentlichungen
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Häufig gestellte Fragen
- Wie hoch ist der geschätzte Auftragswert dieser Ausschreibung?
- Der vom Auftraggeber veröffentlichte geschätzte Auftragswert beträgt 1.680.672 €.
- Wer ist der Auftraggeber dieser Ausschreibung?
- Die Vergabestelle ist Der Kanzler der Johann Wolfgang Goethe-Universität, Bereich Finanzen und Controlling, Einkaufsmanagement (Deutschland).
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