El Vínculo El Vínculo.
Gegund Nederland Leveringen

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Aanbestedende dienst: Technische Universiteit Delft

Gepubliceerd
29 mei 2026
Plaats van uitvoering
NL
Procedure
Directe gunning
Documenten
4
Aankondigingsnummer
426722
Referentie
TN-576329
Officiële bron
Officiële bron

CPV-codes

Beschrijving

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Officiële publicaties

Andere aanbestedingen van Technische Universiteit Delft

Alles bekijken →

Veelgestelde vragen

Wie is de aanbestedende dienst van deze aanbesteding?
De aanbestedende dienst is Technische Universiteit Delft (Nederland).
Hoe kan ik inschrijven op aanbestedingen in Nederland?
Inschrijvingen worden ingediend via het officiële aanbestedingsplatform in Nederland. El Vínculo helpt u aanbestedingen te vinden en de documenten te analyseren; de indiening gebeurt altijd bij de officiële bron.
Ontvang meldingen voor vergelijkbare aanbestedingen
Maak een gratis account aan en ontvang elke dag nieuwe aanbestedingen in Nederland die bij uw bedrijf passen.

Gratis beginnen

Gegevens verzameld uit officiële bronnen voor overheidsopdrachten. Bedragen zoals gepubliceerd door de aanbestedende dienst.