Electrochemical atomic force microscopy device
Hankintayksikkö: Aalto University Foundation sr
- Julkaistu
- 6 syyskuuta 2026
- Toteutuspaikka
- FI1B1
- Menettely
- Neuvottelumenettely
- Ilmoituksen numero
- EF-56325
- Viite
- 32e0f879-0e21-4cc7-bc34-d8899c5b2019
- Virallinen lähde
- Virallinen lähde
CPV-koodit
- 38000000Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja)
Kuvaus
Electrochemical atomic force microscopy device: 1) non-resonant sinusoidal-oscillating imaging mode (nroIM): a. Pure vertical z-modulation of the cantilever; amplitudes (from < 1 nm to > 250 nm) and frequencies (from 125 Hz up to 2 kHz) freely selectable. b. In each contacting cycle, a direct determination of the maximum contact force (force setpoint) takes place in real time, where upon all control parameters are automatically and continuously optimized. Force setpoint minimum down to 10 pN. Stable imaging also for "negative force setpoints", i.e., below the baseline of the free force curve. c. Effective line rate >= 2 Hz at 512 pixel/line for all force setpoints possible. d. Suited for cantilevers with spring constants from < 0.001 N/m to > 500 N/m. e. Topography, DMT modulus, adhesion, energy dissipation, force setpoint error and deformation are measured and displayed simultaneously (location and time) and in real time. f. Lateral resolution down to atomic defects in lattice is possible. g. The tip-sample force interaction is continuously displayed in real time during the imaging process. h. This mode can be operated without any limitation of functionality with liquid c…
Viralliset julkaisut
Muut hankintayksikön Aalto University Foundation sr hankinnat
- Confocal imaging Raman microscope
- Konfokaalinen Raman-mikroskooppi
- Käänteiskaasukromatografia - pintaenergia-analysaattori
- Turvallisuus- ja aulapalvelut
- Digital Cinema Cameras
- Shima Seiki NSIR123SPIP-14g -tasoneulekone sekä sitä koskeva ohjelmisto
- High-resolution field emission scanning electron microscope
- Prima BT Bench Top Process Mass Spectrometer (Prima BT MS)
- Scanning probe microscope
- Ultra-low-latency scalable and modular platform for qubit readout and control
Usein kysytyt kysymykset
- Kuka on tämän hankinnan hankintayksikkö?
- Hankintayksikkö on Aalto University Foundation sr (Suomi).
- Miten voin osallistua julkisiin hankintoihin Suomessa?
- Tarjoukset jätetään Suomessa virallisen julkisten hankintojen portaalin kautta. El Vínculo auttaa löytämään hankinnat ja analysoimaan niiden asiakirjat; tarjous jätetään aina virallisessa lähteessä.
Luo ilmainen tili ja vastaanota joka päivä uudet liiketoimintaasi vastaavat julkiset hankinnat Suomessa.