Plaquettes de test et plaquettes polies double face en silicium pour le Centre de MicroNanotechnologie
Buyer: EPFL-Scientific Equipment
- Published
- 23 December 2025
- Submission deadline
- 2 February 2026, 23:59
- Procedure
- Open procedure
- Documents
- 1
- Notice number
- 00859140-2025
- Reference
- 2ea42ed5-2ea8-4f3f-a4ef-fda10f255a2d
- Official source
- Official source
CPV codes
- 38000000Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas)
Description
L'EPFL prévoit d'acquérir des plaquettes de test en silicium ainsi que des plaquettes polies double face en silicium, pour son Centre de MicroNanotechnologie (CMi) en salle blanche. Une part importante du développement des procédés au CMi repose sur des substrats en silicium, ce qui nécessite un approvisionnement conséquent en substrats de silicium. Pour maintenir un stock suffisant, le CMi passe une commande de nouveaux wafers tous les quatre ans, garantissant ainsi leur disponibilité continue pour les utilisateurs et son personnel.
Lots (2)
| Lot | Description | CPV code | Amount |
|---|---|---|---|
| 1 | Single side polished Silicon test wafer | 38000000 Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas) | — |
| 2 | Double sided polished Silicon wafer | 38000000 Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas) | — |
Award criteria
- Quality — Critères d’adjudication
Official publications
- TED · 00859140-2025 · 23 December 2025
- OJS · 247/2025 · 23 December 2025
Other tenders from EPFL-Scientific Equipment
- Acquisition d'un module de puissance doté d'un système de commande associé en vue de la mise en place d'une alimentation haute tension
- Traitement thermique de deux tronçons d'environ 100 m de long d'un prototype de câble supraconducteur
- Une plateforme automatisée d'imagerie de lames entières à haut débit
- Multiplicateurs de fréquence large bande pour la mesure continue de dispositifs semi-conducteurs RF adaptés aux unités de mesure VNA
- Un analyseur de réseaux vectoriels à haute fréquence (au moins 145 GHz)
- Un système de dépôt par sputtering confocal dédié au dépôt de films minces supraconducteurs de haute qualité
- Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF
- Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF
- Microscope confocal à balayage avec les modalités FLIM et STED
- Autoclaves de décontamination laboratoire P3
Frequently asked questions
- What is the deadline to bid for this tender?
- The submission deadline is 2 February 2026, 23:59. Check the official source, as dates can be modified.
- Who is the buyer of this tender?
- The contracting authority is EPFL-Scientific Equipment (European Union).
- How can I bid for public tenders in European Union?
- Bids are submitted through the official procurement portal of European Union. El Vínculo helps you find tenders and analyse their documents; submission always happens at the official source.
Get alerts for tenders like this
Create a free account and receive new tenders from European Union matching your business, every day.
Create a free account and receive new tenders from European Union matching your business, every day.