Wafer-Prober

Veröffentlicht

27 Juni 2025

Erfüllungsort

DED52

Verfahren

Offenes Verfahren

Lose

1

Bekanntmachungsnummer

177b0e1906534040aa5caa321116a703

Referenz

1fcde90d-b4fc-4847-8ae9-e56532d116d0

Offizielle Quelle

Offizielle Quelle

CPV-Codes

• 31712000Maquinaria, aparatos y microsistemas microelectrónicos
• 31712100Maquinaria y aparatos microelectrónicos

Beschreibung

Gegenstand dieses Verfahrens ist die Lieferung und Aufstellung ein vollautomatischen 200-mm-Wafer-Probers. Der Wafer Prober muss für den Dauerbetrieb ausgelegt sein und sollte über fortschrittliche Funktionen für die Handhabung von Wafern und Kassetten verfügen, um mehrere Wafer aufzunehmen und so den Durchsatz erheblich zu steigern. Diese Prüfstation muss für die Charakterisierung von Geräten, die Prüfung der elektrischen Zuverlässigkeit und spezielle Produktionsanwendungen optimiert sein und präzise elektrische Messungen über extrem rauscharme, Gleichstrom-, HF-, mmW- und THz-Frequenzen ermöglichen.

Zuschlagskriterien

• Preis — Preis
• Qualität — Erfüllung der B-Kriterien
• Qualität — Lieferzeitpunkt: 5 Monate oder weniger
• Qualität — Wartungskonzept
• Qualität — Auswertung der Gewährleistungszeit gemäß dem Leistungsverzeichnis

Amtliche Veröffentlichungen

• OEV · 177b0e1906534040aa5caa321116a703 · 27 Juni 2025

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