LARGE DUAL BEAM (FAB FIB SEM)
Aanbestedende dienst: Imec EU Pilot line NV
- Gepubliceerd
- 28 oktober 2025
- Plaats van uitvoering
- BE242
- Procedure
- Onderhandelingsprocedure
- Percelen
- 1
- Aankondigingsnummer
- 19df3f559e494478ac4eb21a407a59f1
- Referentie
- 4b35577c-1bee-4d20-ba36-c535c61a03b8
- Officiële bron
- Officiële bron
CPV-codes
- 38000000Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen)
Beschrijving
We are looking for a 300mm wafer ultra-high resolution focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) system. The tool should allow for nanometer scale imaging of a cross-section and preparation of precise located and thin TEM lamellae. End-pointing of the cross section as well as location for the TEM lamella needs to be precise within nanometer range on a specific structure. Final achieved thickness of TEM lamella Is required below 30nm to provide minimal overlap within lamella thickness, while still being crystalline and uncontaminated, ready for TEM inspection. The tool needs to be able to load 300mm wafers and have a possibility to load multiple TEM grids on the stage. Grid position needs to allow for lamella preparation in multiple orientations. In-system gas injection for carbon and tungsten deposition is required. In order to increase speed for our current workflow, the tool needs to be able to use automation to perform cross-section analysis and prepare TEM specimen.
Gunningscriteria
- Prijs — Zie besteksdocumenten
Gunningen
| Gegund aan | Bedrag | Datum |
|---|---|---|
| FEI Europe BV Branch Belgium | 0 € | — |
Officiële publicaties
- BDA · 19df3f559e494478ac4eb21a407a59f1 · 28 oktober 2025
Andere aanbestedingen van Imec EU Pilot line NV
- Raamovereenkomst voor ontwerp, bouw en inrichting van een cleanroom
- WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM
- Virtual Compute Platform
- Advanced Lithography EUV Scanner
- 300 MM WAFER PLATFORM WITH SINGLE WAFER CHAMBERS CVD SI/POLY+ RTO/RTA
- Semi Automated TEM Lamella Lift out Tool
- Semi-Automatic Wafer Probers
- Automatic Wafer Probers
- BRIGHTFIELD INSPECTION TOOL
- Raamovereenkomst CD SEM TOOL
Veelgestelde vragen
- Wie is de aanbestedende dienst van deze aanbesteding?
- De aanbestedende dienst is Imec EU Pilot line NV (België).
- Hoe kan ik inschrijven op aanbestedingen in België?
- Inschrijvingen worden ingediend via het officiële aanbestedingsplatform in België. El Vínculo helpt u aanbestedingen te vinden en de documenten te analyseren; de indiening gebeurt altijd bij de officiële bron.
Maak een gratis account aan en ontvang elke dag nieuwe aanbestedingen in België die bij uw bedrijf passen.