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SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI

Stazione appaltante: CNR - Consiglio Nazionale delle Ricerche

Pubblicato
6 settembre 2024
Termine di presentazione delle offerte
11 ottobre 2024, 00:00
Documenti
1
Numero dell'avviso
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Riferimento
23f75137-30a7-4758-b6fc-93bac8da95dc
Fonte ufficiale
Fonte ufficiale

Descrizione

SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI

Lotti (2)

LottoDescrizioneCodice CPVImporto
1 LOTTO 1 - DIFFRATTOMETRO A RAGGI X AD ALTA RISOLUZIONE ANGOLARE MULTIFUNZIONALE PER APPLICAZIONI IN MICROELETTRONICA
2 LOTTO 2 - SPETTROMETRO PER LA CARATTERIZZAZIONE ELETTRICA DI LIVELLI PROFONDI IN SEMICONDUTTORI AD AMPIA BANDA PROIBITA

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Domande frequenti

Qual è il termine per presentare un'offerta per questa gara?
Il termine di presentazione delle offerte è 11 ottobre 2024, 00:00. Verifica la fonte ufficiale, poiché le date possono subire modifiche.
Chi è la stazione appaltante di questa gara?
La stazione appaltante è CNR - Consiglio Nazionale delle Ricerche (Italia).
Come posso partecipare alle gare d'appalto in Italia?
Le offerte si presentano tramite il portale ufficiale degli appalti di Italia. El Vínculo ti aiuta a trovare le gare e ad analizzarne i documenti; la presentazione avviene sempre presso la fonte ufficiale.
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