FEI FRANCE

Attributions récentes

• MAINTENANCE MICROSCOPE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION
  31 mars 2026 · 74 457 €
• Renouvellement de la Maintenance pour un microscope S/TEM.
  26 mars 2026 · 677 811 €
• Acquisition d'un spectromètre de photoémission X à haute résolution pour les besoins du LCPME (UMR7564)
  4 décembre 2025 · 299 889 €
• Acquisition d’un microscope double faisceau MEB-FIB avec une source Galium au profit de Grenoble INP – Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMAP). Cet instrument intégrera la Plateforme régionale SATenAuRA rejoignant la sonde atomique tomographique (SAT) acquise et installée dans le cadre du programme CPER SATenAuRA. Le microscope MEB-FIB, intégré au même projet, sera dédié à la préparation des échantillons nécessaires aux expériences de sonde atomique tomographique et il sera exploité par le Consortium des Moyens Technologiques Communs (CMTC), qui est la plateforme de caractérisation des matériaux de Grenoble-INP.
  18 juillet 2025 · 1 222 170 €
• INX Le présent marché a pour objet la fourniture d'équipements scientifiques pour le Centre d’Etudes et de Recherche Technologiques en Microélectronique (CERTeM 5.0).\n\nLes prestation font l'objet de 5 lots, traités par marchés séparés :\n\n- Lot n° 1 : Équipement d'analyse Thermogravimétrique (ATG) couplé à une Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR)\n- Lot n° 2 : Équipement de retrait de résine (stripping) par plasma\n- Lot n° 3 : Équipement d'impression par jet d'aérosol\n- Lot n° 4 : Système de Microscopie Electronique (MEB) couplé à une Faisceau d'ions focalisé (FIB)\n- Lot n° 5 : Équipement de gravure RIE sur échantillons et plaquettes\n - Système de Microscopie Electronique (MEB) couplé à une Faisceau d'ions focalisé (FIB)
  4 décembre 2024 · 1 399 847 €