Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
Buyer: Technische Universiteit Delft
- Published
- 11 March 2026
- Procedure
- neg-wo-call
- Lots
- 1
- Notice number
- 00169848-2026
- Reference
- 046a88e5-03b0-41c8-aef2-e03a3ada6c16
- Official source
- Official source
CPV codes
- 38511000Microscopios electrónicos
Description
Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1
Awards
| Awarded to | Amount | Date |
|---|---|---|
| Carl Zeiss B.V. | €610,000 | — |
Frequently asked questions
- Who is the buyer of this tender?
- The contracting authority is Technische Universiteit Delft (European Union).
Get alerts for tenders like this
Create a free account and receive new tenders from European Union matching your business, every day.
Create a free account and receive new tenders from European Union matching your business, every day.