Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W

Published

4 March 2024

Place of performance

DEF0E

Procedure

Negotiated procedure

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1

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1

Notice number

00132385-2024

Reference

c53eb6c5-192c-4e2c-adc5-dc9c40cd93db

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CPV codes

• 38511100Microscopios electrónicos de barrido

Description

PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern

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• Quality
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• TED · 00132385-2024 · 4 March 2024
• OJS · 45/2024 · 4 March 2024

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